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Jonathan HOUARD

Effet de champ sous éclairement ultrabref : application à la sonde atomique tomographique

par LABGPM - publié le , mis à jour le

25 juin 2010

De nombreuses techniques d’étude ou de structuration des matériaux sont basées sur l’interaction entre la lumière et une pointe dont l’extrémité est sub-longueur d’onde (pointe nanométrique). La sonde atomique tomographique (La-APT) est une de ces techniques. Un laser à impulsions femtosecondes (1015s), focalisé sur un échantillon mis sous la forme d’une pointe nanométrique, déclenche l’évaporation par effet de champ des atomes situés à la surface de l’extrémité de la pointe. Cette technique, mise au point récemment, permet l’analyse tomographique à l’échelle nanométrique de matériaux aussi bien métalliques que semi-conducteurs voir isolants. Cependant, la nature exacte du phénomène d’évaporation par effet de champ assistée par des impulsions lasers ultracourtes était méconnue. Ce travail présente une série d’expériences et de modélisations ayant pour but de montrer et d’expliquer les différents phénomènes se produisant. Les expériences réalisées au sein d’une sonde atomique équipée d’un laser entièrement paramétrable (longueur d’onde, polarisation, énergie...) montrent qu’un phénomène thermique ultrarapide (< 50ps) est principalement impliqué dans l’évaporation par effet de champ observé en La-APT. De plus, cette technique permet d’avoir accès à la dynamique de chauffage et de refroidissement de l’extrémité d’une pointe nanométrique éclairée par des impulsions laser femtoseconde, et cela à une échelle spatiale et temporelle beaucoup plus fine que de nombreuses autres techniques. Cela permet de déduire les propriétés d’absorption d’une pointe nanométrique. Une modélisation multiphysique a été développée et permet de faire le lien entre les propriétés d’absorption et les résultats en La-APT. Cela permet d’optimiser grandement l’instrument.
Effet de champ sous éclairement ultrabref : application à la sonde atomique tomographique