Groupe de Physique des Matériaux - UMR CNRS 6634

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Microscopie Electronique en Transmission

par LABGPM - publié le , mis à jour le

contact : Celia Castro

Le laboratoire dispose de deux microscopes :

Le JEOL 2010, microscope « conventionnel » équipé d’un filament LaB6, d’une caméra et d’un détecteur EDX.

Le JEM ARM-200F pour la microscopie analytique à haute résolution spatiale et tomographie. Ce microscope électronique en transmission est dédié microscopie analytique à haute résolution spatiale et tomographie. Il permet de réaliser des observations basées sur un contraste chimique avec une résolution inférieure à l’Angström. Les techniques d’analyse chimique associées fournissent des résultats qualitatifs et quantitatifs à l’échelle de l’atome. Enfin, cet instrument est doté de l’option tomographie électronique pour des échantillons en forme de pointe afin de coupler les résultats MET/Sonde atomique en Imagerie 3D Haute Résolution.

    MET - JEOL ARM 200F



transmission electron microscope jeol arm 200F


CARACTERISTIQUES

MET

  • Canon FEG 200kV (alignement à 120kV et 200kV)
  • Correcteur d’aberration sphérique (Cs) sur la sonde
  • Pièce polaire UHR
  • Caméra bas de colonne ORIUS 1000

STEM

  • Détecteur HAADF
  • Détecteur ADF
  • Détecteur BF doté de ses propres diaphragmes pour faire de l’ABF
  • Détecteurs GATAN DF/BF à l’entrée du GIF

EDX

  • Détecteur EDX JED-2300T (JEOL)

EELS - EFTEM

  • GIF Quantum

Tomographie

  • Porte objet tomographie sur pointe à grand angle 360° (Fischione)
  • Acquisition - Reconstruction avec option GPU - Visualisation (GATAN)

Accessoires

  • Porte objet double tilt analytique Be (JEOL)
  • Porte objet simple tilt (JEOL)
  • Plasma cleaner Solarus (GATAN)

Logiciels

  • Digital Micrograph (GATAN)
  • EFTEM/EELS/EDX
  • Tomographie (TEM et STEM)
  • Logiciel EDX (JEOL)

Résolution STEM  : 0.08nm
Résolution TEM  : 0.19nm
Cs correcteur STEM (Ronchigram, flat surface>40mrad)
Résolution EELS  : 0.7eV
Résolution EDX  : 138eV

 
  Télécharger les caractéristiques complètes

 

 www.jeol.com

 
 Caractéristiques complètes

 





  • MET - JEOL 2010



transmission electron microscope jeol 2010

 Haute tension : 200 kV
Cathode LaB6
Analyse EDX détecteur SDD (INCAenergy
– Oxford instrument
)
caméra GATAN Erlangshen grand angle
Porte objet double tilt

 

www.jeol.com