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La sonde atomique tomographique rencontre la spectroscopie par absorption des rayons X : Etude des nano-amas et des lacunes dans un alliage modèle à base de fer

Séminaire-Café - mercredi 19 Décembre 2012

par LABGPM - publié le

"La sonde atomique tomographique rencontre la spectroscopie par absorption des rayons X : Etude des nano-amas et des lacunes dans un alliage modèle à base de fer" - mercredi 19 Décembre 2012 à 10h en Salle de Conférences du GPM

La recherche sur les aciers pour cuves a fait de très grands progrès ces quinze dernières années et le Groupe de Physique des Matériaux est notamment l’un des protagonistes [1,2,3].
Une des techniques les plus utilisées est la sonde atomique pour les informations nano-structurales qu’elle apporte, par exemple sur les nano-amas (densité numérique, composition, rayon...). Une autre technique souvent utilisée pour les études des nano-amas est la spectroscopie par absorption des rayons X (X-ray absorption fine structure, EXAFS). Cette technique exploite les rayons X produits au synchrotron pour analyser la structure à courte distance autour de l’élément choisi. La spectroscopie EXAFS a eu un fort impact pour étudier la nanostructure comme les nano-amas (surtout en catalyse) et les propriétés magnétiques mais aussi en physique des métaux [4,5] et pour les transformations de phases [6].
Dans le présent séminaire seront présentés les résultats obtenus sur des aciers modèles analysés par la sonde tomographique et la spectroscopie EXAFS. Les échantillons ont été irradiés avec des ions Fe pour vérifier la présence des amas. La combinaison des deux techniques est très prometteuse et a permis de répondre positivement à de nouvelles questions : Est-ce qu’il y a des lacunes dans l’acier ? Où sont-elles distribuées ?
Cette combinaison est la base d’un nouvel projet en développement entre l’Université de Rouen et la ligne de lumière MARS au Synchrotron SOLEIL en 2013. Dans la partie finale du séminaire sera introduite la ligne de lumière MARS, spécialisée en spectroscopie EXAFS et en diffraction des rayons X à très haute résolution sur matériaux actifs, mais ouverte aussi à d’autres projets.

[1] P Pareige et al. NIMB 178 (2001), 233–236.
[2] B. Radiguet et al. Journal of Nuclear Materials 360 (2007) 104–117.
[3] E. Meslin et al. Journal of Nuclear Materials 406, (2010), 73-83.
[4] S. Cammelli et al. NIMB 266 (2008) 4775–4781.
[5] S. Cammelli et al. Journal of Nuclear Materials 385 (2009) 319–324.
[6] S. Cammelli et al. NIMB 268 (2010) 632–637.