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Patrick Denis

Mécanismes et origines de défaillance de diodes Schottky en carbure de silicium soumises à contraintes thermiques et électrostatiques

par LABGPM - publié le

24 septembre 2013
Mécanismes et origines de défaillance de diodes Schottky en carbure de silicium soumises à contraintes thermiques et électrostatiques